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本多電子の超音波技術を応用した非破壊不良内部検査装置。Aスコープ(超音波反射波形)、Bスコープ(断面画像)、Cスコープ(平面画像)の3モード画面の同時表示機能により、内部の欠陥をわかりやすく容易に判定できます。
主な特長
・探触子走査線下の異常部の分布状態や存在、深さなどの情報が一度に表示され、結果を直感的に把握できる
・ワークに合った周波数(高性能高分子凹面超音波探触子)の選択が可能
主な仕様
型式 | 超音波探触子 | 周波数 | 10~140MHz
(標準 50MHz) |
画像取込機能 | 表示 | A、B、Cスコープ:同時 Cスコープ:領域可変 |
最大画像取込数 | |
画像データ取込方式 | カーソルサンプリング (ゲート4n sec) ゲートホールドサンプリング (4n sec~38.4μsec) 追従ゲートサンプリング (4n sec~38.4μsec) |
A/Dサンプリング周波数 | 1000MSPS | 走査装置 | |
X、Y、Zステージ走査 | 走査速度 | 150 x 150 x 80 mm (X軸) (Y軸) (Z軸) |
ステージ移動量 | 最大500mm/sec | 視野サイズ | フリーサイズ | 走査ステップ | X、Y:8 μm Z:1 μm | 画像表示 | |
23型ワイドLCDモニタ | |
水平1920×垂直1080ドット | 電源 | |
AC 100 V | |
600 VA | 質量 | |
ディスプレイ 6.2 kg、本体 20 kg | |
約150 kg | 外形寸法 (WxDxHmm) |
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ディスプレイ 544x242x319 本体 220 x 495 x 430 |
|
650 x 650 x 1377 | OS | Windows®10 64bit |
Office
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