フルオート顕微FT-IRシステム LUMOSⅡ（ブルカー）
顕微 FT-IR は、光学顕微鏡と FT-IR のもつ化学分析能力を組み合わせた、非常に強力な分析ツールです。
どちらも単独でも強力なツールですが、顕微鏡の空間分解能力と、FT-IR スペクトルがもたらす豊富な化学情報を組み合わせることで、微小領域を化学的に分析することが可能となります。
p {margin-bottom: 1.25em; }
PRODUCTS
分析装置
FT-IR
ISOなどでも異物分析が必須になってきており、異物の定性分析にて導入されるケースが増えてきています。ブルカー製のFT-IRは世界基準で使用されており、分析したい対象物・その大きさによって最適なモデルの提案が可能です。
コンパクトFT-IRシステム ALPHAⅡ（ブルカー）
ALPHA II は、定性および定量分析・原材料の検証・品質管理など、あらゆる業界と分野におけるすべてのアプリケーションに対応するマルチパーパスな FT-IR です。
p {margin-bottom: 1.25em; }
蛍光X線分析装置
ブルカー製の蛍光X線分析装置は世界基準で使用されており、分析可能な元素の大きさ・スピードに応じて最適な装置の提案が可能です。
ハンドヘルド蛍光X線分析装置
蛍光X線分析計は、対象物に含まれる成分（元素）の種類や含有量を測定できる非破壊検査機器です。その中でもハンドヘルド蛍光X線分析計は、小型・軽量でさまざまな対象物をその場で簡単に測定できるのが特長。製造現場の品質検査やリサイクル原料の選別、有害金属の調査等幅広い場面で使用されています。
電子顕微鏡
簡単な操作で対象の組織や構造を観察できるSEM（走査電子顕微鏡）です。近年、タイでも製造業分野での品質管理や生産管理の業務への利用が広がっています。安心の日本製高機能SEMがタイでお求めいただけます。
SEM／走査型電子顕微鏡「JSM-IT210」（日本電子）
5軸移動がすべてモーター駆動のステージにより、安心かつ迅速にご使用いただけます。
「Zeromag」機能によって、は複数の試料をホルダーにセットした場合や特定箇所を観察する場合の視野探しが容易になります。また、特性X線スペクトルや元素マップを表示する「Live Analysis」は観察しながら、目的の元素を探すことができる機能です。
卓上走査電子顕微鏡（日本電子）
JCM-7000は、簡単な操作で光学像、SEM観察、元素分析を可能にした卓上タイプの電子顕微鏡です。コンセプトは、「誰でも SEM/EDS が操作できる」。光学像からSEM観察への移行が簡単で、また観察中にリアルタイムで視野の主元素分析ができるなど、便利な機能を多数搭載しています。金属、ガラス、プリント基板から、食品、繊維、アスベスト、ゴム、プラスチックまで、幅広い物質の検査に対応します。
マイクロマニュピレーター
分析の作業工程では、異物等のピックアップが課題となります。微細になればなるほど人での採取が困難になり、時間がかかります。マイクロマニュピレーターの導入で作業者の負担が軽減出来るとともに、正確なサンプリングを実現します。採取の他に吸着・切断・加工等の作業も可能です。
